هندبوک آنالیز سطح و فصل مشترک

HANDBOOK

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS

شرح :

هندبوک آنالیز سطح و فصل مشترک : روش‌های حساس به سطح روش‌هایی هستند که به کمک آنها می‌توان آنالیز شیمیایی را در سطح نمونه انجام داد. منظور از آنالیز سطح تعیین ترکیب شیمیایی سطح نمونه و حداکثر تا عمق ۲۰ لایه اتمی (۵۰ آنگستروم) می‌باشد. روش‌های آنالیز که پیشتر به آنها اشاره شد در حقیقت آنالیز کل نمونه یعنی سطح و بدنه با هم است. به عنوان مثال در روش XRF و جذب اتمی هیچگونه اطلاعاتی از سطح نمونه به دست نمی‌آید. حتی در روش ریزکاو الکترونی که در میکروسکوپ الکترونی به کار می‌رو نیز آنچه به عنوان آنالیز شیمیایی در دستگاه انجام می‌شود چون از عمقی خیلی بیشتر از ۵۰ آنگسترومی سطح نمونه است آنالیز سطح به حساب نمی‌آید. اساس همه روش‌های آنالیز حساس به سطح برانگیختن سطح نمونه به کمک یک پرتو فوتونی یا ذره‌ای و اندازه‌گیری انرژی ذرات ثانویه‌ای است که سطح نمونه را ترک می‌کنند. منظور از ذرات ثانویه الکترون‌ها یا یون‌هایی هستند که در اثر بمباران پرتو ابتدایی از سطح نمونه جدا شده و می‌توان آنها را در خارج از سطح آزمایش کرد. روش‌های اصلی حساس به سطح که در علم مواد بیشتر استفاده می‌شوند عبارتند از طیف سنجی فوتوالکترون پرتو X طیف سنجی الکترون اوژه AES و طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS در این روش‌ها تنها ذرات ثانویه‌ای که در نزدیکی سطح پدید می‌آیند تحت فرار از سطح و ورود به قسمت آنالیز کننده را دارند. ذرات ثانویه پدید آمده در عمق نمونه به دلیل آنکه احتمال بر هم کنش با اتم‌های داخل نمونه در عمل از بین می‌روند. بنابراین اطلاعاتی که از این ذرات خروجی از سطح نمونه به دست می‌آید محدود به ۲۰ لایه اتمی سطح بوده و بر این اساس روش‌های بالا را روش‌های حساس به سطح نامیده‌اند. اهمیت روش‌های آنالیز سطح در این واقعیت نهفته است که در بسیاری از مطالعاتی که در علم مواد انجام می‌شود اطلاعات موجود در مورد سطح ماده حیاتی است.

قالب بندی : PDF

تعداد صفحات ۶۸۳

حجم :۲۱MB

لینک دانلود

 مشاهده مطالب مرتبط