اندازه گیری نیروی چسبندگی سطوح مواد (AFM)

اندازه گیری نیروی چسبندگی سطوح مواد

به وسیله ی دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

شرح :

اندازه گیری نیروی چسبندگی سطوح مواد (AFM) : امروزه در حوزه های گوناگون فناوری، از روش های آنالیزسطح برای کنترل کیفی محصولات استفاده می شود. در تحقیقات مختلف، روش های بسیاری برای آشکار سازی جنبه های مختلف فیزیکی و شیمیایی سطوح استفاده شده اند. کاربرد هر روش علمی، به ویژه روش های جدید، به مطالعه اصول کار و موارد استفاده آن در زمینه مختلف پژوهشی نیاز دارد. استفاده از میکروسکوپ های پروبی روبشی، از جمله این روش هاست که نقش کاملاً تعیین کننده ای برای پژوهش در حوزه فناوری نانو ایفا نموده است. میکروسکوپ روبشی نیروی اتمی (AFM)، کاربرد گسترده ای در زمینه تعیین توپوگرافی سطوح و مطالعه نیروهای سطحی پیدا کرده است. از جمله ویژگی های این روش به توانایی بررسی جزییات در مقیاس نانومتر، کاربری آسان و امکان بررسی نمونه های مختلف هادی، نیمه هادی، سخت، نرم و بیولوژیکی، می توان اشاره کرد. در این دستگاه، از اثر متقابل بین نوک سوزن میکروسکوپ و نمونه، برای اندازه گیری نیروی چسبندگی سطحی استفاده می شود. نیروی بین نوک سوزن و نمونه می تواند از انواع نیروهای الکتریکی، مغناطیسی، چسبندگی، مویینگی و نیروهای اتمی باشد. نیروی چسبندگی، یکی از عوامل مهم برای ایجاد نیروی اصطکاک است. همچنین وجود این نیرو، ایجاد تغییر در سطح را تحت تأثیر قرار می دهد. لذا در طراحی اصولی برای تولید مواد مختلف، توسعه درک درست نیروی چسبندگی و رابطه های کلی محاسبه آن، ضروری است. در علوم پلیمر، پلیمرهای هادی با گستره وسیعی از کاربرد، مورد توجه واقع شده‌اند. این پلیمرها همچنین به‌عنوان واحدهای ساختمانی بنیادی در الکترونیک مولکولی مورد بررسی قرار می‌گیرند. توسعه بسیاری از این کاربردها، نیازمند روش‌هایی برای اندازه‌گیری خواص هدایتی و نیروهای سطحی این مواد در مقیاس نانو است.

قالب بندی : PDF

تعداد صفحات :۲۳

حجم :‌۶۶۹KB

لینک دانلود

 مشاهده مطالب مرتبط