میکروسکوپ SNOM نوری روبشی میدان نزدیک
شرح:
میکروسکوپ نوری روبشی میدان نزدیک SNOM: مشاهده و مطالعهی نمونهها با بزرگنمایی بالا، در بسیاری از رشتهها از جمله شیمی، علوم زیستی و مواد، اهمیت زیادی دارد. روشهای نوری، مدت زیادی است که استفاده میشوند و به دلیل غیرمخرب و تخصصی بودن، سهولت استفاده و هزینهی پایین نسبت به روشهای دیگر، بهطور وسیعی بهکار گرفته شدهاند. بسیاری از پدیدههای نوری در ابعاد کوچکتر از طولموج نور، دارای رفتار غیرمعمول هستند. اصل عدم قطعیت، از تمرکز و بررسی در نواحی بسیار کوچکتر از طول موج، ممانعت مینماید. این محدودیت ناشی از بر هم کنش امواج الکترومغناطیس و نمونه استدر چند سال اخیر، روش SNOM بهطور گستردهای در زمینهی مشخصهیابی مواد نانو مقیاس بهکار برده شدهاست. این روش را میتوان با همهی روشهای معروف در میکروسکوپی نوری کلاسیک مانند روش لومینسانس، پلاریزاسیون و همچنین روش تضاد رنگ، ترکیب نمود. با استفاده از SNOM میتوان از مزیت روشهای متداول تضاد رنگ و وضوح بالاتر نیز بهره برد. ساس کار دستگاه های میکروسکوپی نوری میدان نزدیک روبشی در سال ۱۹۷۲ توسط Ash و Nicholls کشف شد. ولی اولین دستگاه میکروسکوپی نوری میدان نزدیک روبشی در سال ۱۹۹۱ توسط Betzing ساخته شد. این دستگاه در حقیقت بسیار شبیه دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) میباشد تا میکروسکوپهای نوری.دستگاه SNOM تصویر بسیار خوبی از توپوگرافی نمونه با قدرت تفکیک عمودی خوبی به ما میدهد. تفاوت دستگاه AFM و SNOM در پروب آنها برای روبش سطح میباشد. نوک دستگاه AFM از سیلیکون ساخته شده است. در حالی که نوک دستگاه SNOM از یک فیبر نوری تشکیل شده است. بر خلاف دستگاه AFM نوک دستگاه SNOM علاوه بر تعیین توپوگرافی سطح برای روشن کردن نمونه نیز به کار میرود. در شکل (۱) پروب دستگاه AFM و SNOM مقایسه شدهاند.بر خلاف دستگاه AFM، دستگاه SNOM فقط در حالت غیرتماسی کار میکند. در SNOM فاصله بین نوک پروب تاسطح نمونه با میزان میرایی نوسان پروب اندازهگیری میشود.
قالب بندی:pdf
تعداد صفحات:۳۸
حجم: ۲٫۵۳MB
دیدگاه کاربران