آنالیز روش های پیشرفته مطالعه مواد ( دانشگاه صنعتی شریف )

آنالیز روش های پیشرفته مطالعه مواد

XRF-EDS

( دانشگاه صنعتی شریف )

شرح:

 آنالیز روش های پیشرفته مطالعه مواد : طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF) یا (X-ray Fluorescence Spectroscopy) یا طیف سنجی پرتو ایکس کی از روش های آنالیز عنصری است که از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به علت سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع، ضروری است. در روش طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)، پرتو ایکس به نمونه مجهول تابیده و در اثر برانگیختن اتم ها باعث پدید آمدن پرتو ایکس ثانویه می شود. سپس با تعیین طول موج (روش WDS) یا انرژی پرتو ایکس ثانویه (روش EDS)، عنصر یا عناصر مورد نظر را می توان شناسایی کرد. در این روش پرتو خروجی از لوله پدید آورنده پرتو ایکس به نمونه می تابد و در اثر بمباران، الکترون های موجود در مدار های داخلی اتم خارج شده و جایگزینی این الکترون  ها از مدارهای بالایی، سبب پدید آمدن پرتو ایکس مشخصه خواهد شد. اساس این پدیده، مانند حالتی است که نمونه، توسط الکترون بمباران می شود. طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. در روش WDS پرتوی ایکس خروجی از نمونه مجهول، پیش از ورود به آشکار ساز، توسط یک بلور تفکیک می شود. در روش EDS پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکارساز می شود. تفاوت اصلی دو روش EDS و WDS به سرعت، دقت، قدرت تفکیک این دو روش مربوط است.

قالب بندی:pdf

تعداد صفحات : ۴۳

حجم:۷٫۷۸MB

لینک دانلود

  مشاهده مطالب مرتبط