میکروسکوپ MFM نیروی مغناطیسی

شرح:

میکروسکوپ MFM نیروی مغناطیسی : میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (به انگلیسی: Magnetic force microscope) نوعی میکروسکوپ توسعه یافته از ایدهٔ میکروسکوپ نیروی اتمی است. این میکروسکوپ از تغییرات فضایی نیروی مغناطیسی بین سطح نمونه و نوک کانتی لیور برای تصویرسازی استفاده می‌کند. در حقیقت، اگر از سوزنی با ممان (گشتاور) مغناطیسی استفاده شود، می‌توان از هر میکروسکوپ نیرویی روبشی به عنوان میکروسکوپ نیروی مغناطیسی استفاده نمود. در این صورت، میکروسکوپ نیرویی روبشی نسبت به خطوط میدان مغناطیسی خارج شده (emanating) از نمونه، حساس می‌شود. اما، می‌توان از سوزن‌های دیگری که به خطوط میدان مغناطیسی حساس هستند نیز استفاده کرد. مثال‌های آن عبارتند از: پروب‌های میکروساخت هال ، سنسورهای مگنتورزیستیو (آشکارسازهای مقاومت مغناطیسی) و ابزارهای تداخل کوانتم ابر رسانا (SQUIDS)(ابزارهای تداخل سنجی کوانتمی ابر رسانا- در پزشکی کاربرد دارد). تصویری که با یک سوزن مغناطیسی گرفته می شود، شامل اطلاعاتی درباره هر دو نوع خواص توپوگرافی و مغناطیسی سطح است. اثر غالب، به فاصله سوزن و نمونه بستگی دارد. نیروی مغناطیسی بین اتمی، نسبت به نیروی واندروالس تا فواصل بیشتری بین سوزن و سطح برقرار است. اگر سوزن به سطح نمونه نزدیک باشد، در ناحیه ای که AFM دینامیکی استاندارد کار می کند، تصویر عمدتا توپوگرافی خواهد بود. با افزایش فاصله بین سوزن و نمونه، تأثیرات مغناطیسی غالب تر می شوند. جمع آوری مجموعه ای از تصاویر در فواصل مختلف سوزن تا نمونه یک راه جدا کردن اثرات مغناطیسی از توپوگرافی است.

قالب بندی:pdf

تعداد صفحات:۲۵

حجم: ۱٫۴۷MB

لینک دانلود

  مشاهده مطالب مرتبط  

میکروسکوپ MFM نیروی مغناطیسی