
سرخط ویژه
- استخدام مهندسی مواد و متالورژی – سرامیک – جوشکاری – خوردگی (۲۷ بهمن۹۷)
- ساخت سیستم ایرانی برای کمک به اکتشاف معادن مس و طلا
- تحقق برنامه های تولیدی مجتمع فولاد مبارکه
- فولاد هرمزگان در آستانه دستیابی به ظرفیت کامل تولید
- استخدام مهندسی مواد و متالورژی – سرامیک – جوشکاری – خوردگی (۲۵ بهمن۹۷)
- استراتژی معدن برای ۱۰ سال آینده
SIMS

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)
طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) : طیف سنجی جرم یون ثانویه یا SIMS یک تکنیک مورد استفاده در علم مواد و علم بررسی مواد حالت جامد میباشد.