پکیج های آموزشیبهترین ها برای شما

کلاسهای آمادگی کنکور ارشد و دکتری

کلاسهای آمادگی کنکور ارشد و دکتری

دوره‌های آمادگی ورود به بازار کار

دوره‌های آمادگی ورود به بازار کار

آزمون‌های آزمایشی ارشد و دکتری

آزمون‌های آزمایشی ارشد و دکتری

کتابهای کنکور مهندسی مواد

کتابهای کنکور مهندسی مواد

کتاب‌های تخصصی مهندسی مواد و متالورژی

کتاب‌های تخصصی مهندسی مواد و متالورژی

دوره‌های آمادگی ورود به بازار کار

دوره‌های آمادگی ورود به بازار کار

آموزش نرم‌افزارهای<br>مهندسی مواد و مکانیک

آموزش نرم‌افزارهای
مهندسی مواد و مکانیک

SIMS

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) : طیف سنجی جرم یون ثانویه یا SIMS یک تکنیک مورد استفاده در علم مواد و علم بررسی مواد حالت جامد می‌باشد.