طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) : طیف سنجی جرم یون ثانویه یا SIMS یک تکنیک مورد استفاده در علم مواد و علم بررسی مواد حالت جامد می‌باشد.